Kryštalografická spoločnosť
Regionálny komitét českých a slovenských
Kryštalografov
Ústav experimentálnej fyziky SAV, Košice
Čas:
štvrtok29.
3. 2012
Miesto:
Ústav experimentálnej fyziky SAV, Watsonova 47, 04001 Košice,
www.saske.sk
Doprava:
zo železničnej stanice električkou č. 2,3,6 dve zastávky na Nám.
Osloboditeľov, prestup na električku č. 7, vystúpiť na konečnej zastávke
„Botanická záhrada“
Program
9.00
K. Flachbart (riaditeľ ÚEF SAV)
Otvorenie
9.10
M. Jergel (FÚ SAV, Bratislava)
Aplikácia techník XRR a GISAXS pre štúdium vysokovýkonných rtg.
zrkadiel
9.35
P. Šutta (ZU, Plzeň)
Difrakčná analýza vrstiev mc-Si:H pre fotovoltické aplikácie
10.00
M. Čerňanský (FÚ AV ČR, Praha) Poznámka k tvarovému faktoru difrakčných profilov
10.25
Prestávka
10.40
P. Beran(ÚJF AV ČR, Řež u Prahy) Materiálový výzkum na neutronovém difraktometru MEREDIT@NPI Řež
11.05
M. Petrák (VÚANCH, Ústí nad Labem) Výzkumný ústav anorganické chemie, a.s. a jeho aktivity v oblasti materiálového výzkumu
11.30
K. Saksl (ÚMV SAV, Košice) Štruktúra amorfných materiálov hodnotená metódami rtg. a neutrónovej difrakcie, rtg. absorbčnej spektroskopie a metódou Reverse Monte Carlo
11.55
P. Bezdička(ÚACH AV ČR,Řež u Prahy) Jeden den rentgenáře
12.20
Obed
13.30
V. Langer (Chalmers University, Gothenburg, Sweden)
Zda-li být, či nebýt redaktorem Acta Crystallographica C...
13.55
V. Jorík(FCHPT, Bratislava) Prášková difrakcia na kokryštáloch
14.20
E. Dobročka(EÚ SAV, Bratislava) Textúra v tenkých vrstvách rastených na monokryštalických podložkách
14.45
Prestávka
15.00
T. Havlík (HF TU, Košice)
Využitie rtg difrakcie pri materiálovej recyklácii odpadov
15.25
N. Ganev (FJFI ČVUT, Praha) Současné možnosti a omezení aplikace rtg tenzometrie v materiálovém inženýrství a průmyslu
15.50
L. Smrčok (ÚACH SAV, Bratislava) Synchrotrónová XRD a XRF analýza rímskych glazovaných črepov